XRF如何工作 - X射線熒光光譜

　　X射線熒光（XRF）是用于確定各種材料中元素濃度的非破壞性分析方法。

　　XRF通過(guò)用來(lái)自X射線管的X射線束照射樣品來(lái)工作，導(dǎo)致特征X射線從樣品中的每個(gè)元素發(fā)出熒光。 檢測(cè)器測(cè)量每個(gè)X射線的能量和強(qiáng)度（以特定能量每秒的x射線數(shù)），其使用諸如基本參數(shù)或用戶生成的校準(zhǔn)曲線之類的非標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)轉(zhuǎn)換成元素濃度。

　　元素的存在通過(guò)元件的特征X射線發(fā)射波長(zhǎng)或能量來(lái)識(shí)別。 通過(guò)測(cè)量該元件的特征X射線發(fā)射的強(qiáng)度來(lái)量化存在的元素的量。

　　原子級(jí)

　　原子 - 堿性配置ONE - 所有原子具有固定數(shù)量的電子。這些電子排列在核周圍的軌道上。能量分散XRF（EDXRF）通常捕獲前三個(gè)電子軌道K，L和M線的活動(dòng)。

　　原子 - 基本配置顯示殼 - 這些電子排列在核周圍的軌道上。能量分散XRF（EDXRF）通常捕獲前三個(gè)電子軌道K，L和M線的活動(dòng)。